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较早公告: 高通量样品均质器集研磨、裂解、均质为一体的多功能、高通量样品均质器,通过振动和研磨珠的敲打,可对小批量样品进行处理;样品单管操作,可消除交叉污染;可用于在均质过程中蛋白质、DNA、RNA、病毒和其它生物成分的分离提取;可有效均质动物组织、昆虫、微生物、植物种子、块茎、叶片、土壤和沉淀物等样品;还可用于对粉状样品进行化学分析及溶解度研究。高通量样品均质器配件:研磨样品瓶组:有聚乙烯和聚碳酸酯两种材质,聚乙烯样品瓶组为24个4mL样品瓶,聚碳酸酯样品瓶有24个4mL、5个15mL样品瓶两种规格。研磨
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半球发射率测定仪

半球发射率测定仪

型    号: PM-E2
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半球发射率是指热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全辐射体(黑体)的辐射出射度的比值,体现了材料在特定温度下相对黑体的辐射能力。
PM-E2半球发射率测定仪测量半球放射率,适合太阳能电池组件,建筑隔热涂料,热控涂层等材料开发,工厂热能有效利用和节能设计。

PM-E2半球发射率测定仪的详细资料:



PM-E2半球发射率测定仪原理

PM-E2半球发射率测定举例

PM-E2半球发射率测定仪技术规格

系统组成

仪器包含积分球测量单元,光源,数据显示的操作单元。

校正
低辐射参考样板使用镀金玻璃镜面 (εL=0.05@293K/Edmund),高辐射标准样板使用
黑体 (εH=0.85@293K/Sheldahl).

测定方法    
半球发射率εH
半球发射率测定范围    0.05~0.95
检测器波长范围    
0.6~42μm(300K理论黑体总放射能量的95%)
测定的不确定性    半球发射率值±0.03
测定时间    1~3分
基准样品    
低半球发射率εH=0.05@293K (镀金镜面/ Edmund)
高半球发射率εH=0.85@293K(Sheldahl制)
电源    DC12V1A
尺寸规格    
操作部分:W145×D82×H32 (mm)
测定部分:W125×D60×高74 (mm)
重量    
操作部分:约200g
测定部分:约700g
储存环境    
温度:10~45℃
湿度:50%RH
附件    
使用手册
CD(驱动程序)
USB数据线 (Type A-Type B)
电源线

 

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